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　　电子产品特定有害物质测定标准IEC 62321 发布2013版本

　　IEC 62321-1、-2、-3-1、-3-2、-4和-5的2013版已通过最终国际标准版草案(FDIS) 阶段，目前已正式公布。有关电子产品中特定有害物质测定的标准- IEC 62321，概述了电子产品的测试方法，以确定产品中的有害化学物质浓度低于欧盟有害物质限制指令(RoHS)法律中制定的有害化学物质浓度。如同以往，2008版的IEC 62321标准也经过了一段维护周期，现今再将最佳的操作和先进的技术引入测试程序，以确保实验的一致性和可靠度，满足标准的制定。

　　IEC 标准范围

　　62321-1  简介和概述

　　62321-2  样品的拆卸、拆解和机械拆分

　　62321-3-1  使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铬和总溴进行筛选

　　62321-3-2  使用C-IC对聚合物和电子产品中的总溴进行筛选

　　62321-4  使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞

　　62321-5  使用AAS、AFS、ICP-OS和ICP-MS确定聚合物和电子材料中的镉、铅和铬，以及金属中的镉和铅

　　2013版的最主要变化在于将文件拆分成一系列标准，以利标准维护，同时导入新的测试方法或仪器，例如燃烧- 离子层析仪(C-IC) 和冷蒸汽原子荧光光谱仪(CV-AFS)。

　　在完成上述系列标准之后，目前还有另外四份标准正处于不同草案编制阶段; PBB/PBDE (IEC 62321-6)、六价铬(IEC 62321-7-1和-2) 以及邻苯二甲酸酯(IEC 62321-8) 的测试方法。

　　这些标准预计公布日期如下:

　　2014年2月- IEC 62321-6

　　2014年4月- IEC 62321-7-1

　　2014年11月- IEC 62321-7-2

　　2015年3月- IEC 62321-8